仪器学霸
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在周末发表在《科学进展》杂志上的一篇论文中，来自新南威尔士大学电气工程与电信学院的副教授Jarryd Pla及其团队与同事Scientia教授Andrea Morello一起描述了一种可以高精度测量材料自旋的新设备。 在这个新的开发中，A/Prof. Pla说他和团队设法将这些组件集成到一个芯片上。 新技术将光谱仪的几个重要部分集成到一个设备中，并且与相对较大的磁场兼容。这很重要，因为测量它们需要放置在大约0.5特斯拉的磁场中的自旋，这比地球磁场强一万倍。
