调试电路板的供电电源纹波要小,这样可以让系统更稳定运行,电容测量精度更好。寄存器设置成功后,就可以发送启动电容测量的命令了。
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MCU+PCAP01电容测量浮动很大而且位置平移也会产生较大变动? 用STM32F1控制PCAP01测量电容,程序采用SPI通讯,读取PCAP01的寄存器,电容采集,采用的是漂移模式。使用后发现,电容采集过程中,波动较大,而且在采集过程中不能移动电容器位置。我在测量电容后,在相同环境下,稍稍平移下电容位置,再测,两次测量结果就相差很大,这是为什么啊?