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国产半导体光学检测设备再次交付

 芯闻速递

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近日,中导光电设备股份有限公司纳米级图形晶圆缺陷光学检测设备(NanoPro-150)再次交付客户,标志着中导光电在半导体前道图形晶圆检测设备市场化道路上阔步前行。

此次交付用户的NanoPro-150产品灵敏度系纳米级序列,充分满足半导体芯片90nm及以上产线制造工艺需求。

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