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韩国开发出全球第一台设备,可检测显示器奈米薄膜表面缺陷

 光电星探

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韩国檀国大学宣布,开发出全球第一台设备,可快速测量手机等各种显示器表面的奈米薄膜表面缺陷。

显示器通常会经过一道工序,即在表面贴上一层 20-40 奈米厚的奈米薄膜,使其变得光滑。过去要辨识奈米薄膜必须使用透射电子显微镜、原子力显微镜和扫描电子显微镜等耗时方法,因此难以定量测量,且常常导致次级品出厂。尤其是可折叠和柔性显示器,是使用光学透明黏合剂来黏合每一层,因此常在折叠点出现分层,导致整个产品报废。

这款设备可在 40 秒内测量 8 吋显示屏的整个区域,从而快速确定缺陷。据报导,利用该设备可预先筛查每个奈米薄膜中的缺陷,确保只使用无缺陷材料,从而大大降低产业成本,提高生产率。

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回复光电星探:显示器快速发展和产品逐步复杂,使得公司在开发和大规模生产材料的损失增加,因此开发这个设备。

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