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100%自主研发!i12-F300超精密晶圆缺陷检测产品成功发运

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近日,御微半导体首批i12-F300超精密晶圆缺陷检测设备在御微合肥成功发运,顺利交付国内集成电路领域重要客户。

i12-F300的推出,进一步完善了御微在晶圆检测领域的产品布局,这是御微集成电路晶圆缺陷检测领域的重大突破,也是迈入国产替代关键性的一步。未来,御微将持续加大研发投入,精准把握客户需求,不断推出满足客户需求的新产品,填补国内相关半导体设备领域的空白,为广大客户创造更多独特价值。

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