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对仪器外壳打静电,会导致AD7616采样异常,最终...

 小新1992

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对仪器外壳打静电,会导致AD7616采样异常,最终发现异常时,BUSY信号变成了500ns的尖峰毛刺信号,如下图所示。黄色的波形是正常的BUSY信号,蓝色的波形是出现异常时的BUSY信号。请问有什么方法能规避这种问题出现吗?
以前用的是AD7606,同样的布局方式,打任何干扰,没有出现过ADC BUSY信号异常的现象,是不是AD7616抗ESD性能比AD7606要差很多?

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1. 图中哪个是BUSY,蓝的 ?2. AD7616正常转换一对通道时间就是500ns左右,你的配置使能了seq&burst模式吗?正常的BUSY是多长?3. 在PCB布板上,推荐不分割地,ADC下用完整地平面就近接地;芯片下别走信号线。
我也遇到了相同的问题,在噪声较大的环境下看到BUSY信号出错,我利用BUSY信号为高作为出错的信号,抛弃一帧该更新数据,减少了出错。但是同时我还发现AD7616的AB通道数据出错,比如AB数据交换,或者B的数据跟随了A的数据,此时没有任何出错标志,我能够确定这是AD7616输出的,而非驱动出错导致。请问你最后如何解决问题呢?

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