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制样进入高效时代!蔡司推出双束电镜Crossbeam 550 Samplefab

 仪器学霸

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近日, 蔡司推出双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab,这是一款专为半导体行业TEM样品制备开发的高端聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),提供优异的灵活性、自动化功能和用户友好设计。

该仪器提供优异的灵活性、自动化功能和用户友好设计,帮助半导体行业的样品制备更加简便高效。同时,配备直观的行业标准图形用户界面,软件功能模块高度整合,轻松上手。无论是专家还是新手,都能拥有友好的操作体验。

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