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简述常见的光学设计流程

 深圳市锦鸣宏业电子有限公司

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簡介
本文的目的是提供您一常見的光學設計流程,以期幫助您在使用CODE V 上可以更得心應手
每個光學設計都個有不同
---有些需求上的小更動,卻可能使設計上需要進行大改變。如:
•操作波長
•相對照度
•畸變(Distortion)
•影像品質
•製造成本
---為何一個六片式的Double Gauss 透鏡會有數百個專利?

利用電腦進行光學設計
光學設計(尤其是鏡頭設計)已進入電腦輔助設計時代
–只有非常簡單的系統(如:Cassegrain望遠鏡)不需要使用光線追跡來進行設計
1950 年代時,電腦僅是單純的進行三角幾何光線追跡
在1960 年代,電腦已經可以進行初期最佳化搜尋及計算複雜的影像品質(如:MTF)
然而今日,神速的電腦計算速度被應用在挑戰設計者產品的極限

概觀流程
光學設計的主要流程如下:
–定義任務–「什麼是我們嘗試要執行的?」
•如:在手機相機中加入變焦透鏡
–發展光學規格與需求
–獲得光學設計的啟始點(們)
–分析啟始點及比較設計的規格與需求
–最佳化每一個啟始點並進行分析
–比較並觀察價值函數在進行最佳化時的步驟與結果
–最終最佳化設計
–準備試生產
–公差(容忍度分析)
–生產

「什麼是我們要嘗試的?」
光學系統涵蓋了非常大的應用範圍:
–相機鏡頭
–視覺系統,如:放大鏡、接目鏡、顯微鏡、望遠鏡、瞄準器、觀景窗、頭戴顯示器、模擬器、虛擬實境
–高品質成像系統,如:偵查用透鏡、光刻儀
–掃描系統,如:條碼機、印表機、雕刻機、遙控感測器
–雷射光學:準直器、擴速器
–通訊:光纖耦合、準直器、多工/解多工器、無線光傳輸系統
–射譜儀/光譜儀
–天文望遠鏡

典型的光學系統

發展設計規格
制定設計規格的目的,是提供設計產品時應有的規則與基本條件,讓設計者清楚知道設計的任務與限制
設計規格應包括數值參數(如:焦距、F/#...等)、設計目標及需求、其他資訊以及相對重要的需求
簡單的說,設計規格包含了:
–一階參數
–系統資訊
–性能指標與需求
–加工考量
把這些資訊整理到一個表單上

一階參數
焦距及放大倍率
後焦、物距或像距
光瞳(F/#、入瞳或數值孔徑)
視角(角度或高度)
成像或是無焦(準直輸出)?
物空間或像空間遠心(Telecentric,主光線平行光軸)?

系統資訊與需求
波長與權重,可定義成:
–光源
–觀察面(人眼、底片、CCD…等)
工作環境(溫度、海拔/壓力、荷重)
切趾(有需要的話)
Transmission
相對照度(中心vs. 邊緣視角)
尺寸
重量

性能指標與需求
影像品質
–繞射分析
均方根波前誤差
MTF(在某個空間頻率上)
PSF(如Strehlratio、80% 環狀能量直徑、對稱PSF)
高斯光束傳播特性
–幾何分析
均方根點列圖
雙眼聚合誤差(針對雙眼系統)
影像幾何
–畸變(Distortion)
–線性掃描
其他:偏振方向、遠心差異…等

哪一個最重要?
設計者要知道哪一個考量或需求對光學系統是最重要的。這對設計者在決定設計的取捨有所幫助
–「若使用3 片鏡片,我將無法獲得足夠的影像品質。我可以用4 片鏡片或是非球面嗎?」
–「如果不減小數值孔徑,鏡頭將無法放入」
越多的考量在事先知道,那就可以減少開發的時間與成本
我們可以藉由「最大」或「最小」,以及區分「絕對需求」與「目標」來避免許多問題的發生
有時整個設計案的目的,就是在確認及學習找出問題並做出權衡

哪一個最重要?-範例
影像品質:「必須整個視角都在繞射極限上」
組裝:「鏡頭必須要能放置在相機裡頭」
重量:「這將用在太空探索中,所以重量必須小於5kg」
成本:「要生產50,000 個而每個成本需要少於$1.50」
–成本因素會有需多的考量,例如:單一拋光一個非球面是非常貴的;然而若用塑膠模造非球面卻遠比球面研磨便宜

典型的加工考量
鏡面或透鏡,或兩者皆是?
光學材料–玻璃、塑膠、金屬
表面形狀–球面、非球面、柱壯面…等
繞射表面(DOE 或是Kinoform)?
組裝方式
生產數量
–是否需要樣本?
測試/檢查/品質檢驗方法
組裝的過程中要進行校正嗎?

折射材料
玻璃
–有非常多種類
–可用在叫昂貴或奇特的類型。(染色、柔和、對溫度敏感…等)
–有提供尺寸與等級來選擇
塑膠
–只有少數選擇
–無高折射率(全都小於1.7)
–容易加工成非球面
但模具貴;樣本可利用精密加工機製作
–熱膨脹係數與dn/dT比玻璃高
–同質性/應力雙折射可能會產生問題
紅外與紫外線的特殊材料
–可利用精密加工機製作

非球面
各種不同的加工技術:
–手製(玻璃)
–鑽石研磨加工(玻璃)
–摺疊式(把塑膠/樹脂摺疊在玻璃上)
–模造(小玻璃或塑膠)
–精密切削加工(IR 材料、金屬、塑膠)
加工後的表面形狀如何去量測/確認?
–表面輪廓儀/CMM(三次元量床)
–干涉儀
利用零位法來檢測拋物面/雙曲面/橢圓面
零透鏡通常需要其他形狀

有效地使用非球面
非球面(ASP)及其他特殊表面對下列特性有所幫助︰
–修正像差
–減少鏡片數量
–縮小尺寸
當有需要時才使用ASP
–使用邊緣光線繪製診斷系統像差
–像差特性決定了個哪裡需要放置非球面表面
系統性能不僅是用了多少個非球面,也受下列影響︰
–這些非球面表面是怎樣被使用
–哪裡該放置非球面表面

非球面使用訊息
這裡提供了幾個非球面的使用訊息:
–一步一步的增加ASP 表面,如果您需要多個ASP表面的話
–將ASP的項次變量,從低階逐步增加
–在光圈或靠近光圈處設置非球面來修正球差
–當足印圖有些微重疊時,可在遠離光圈處設置非球面來校正非對稱像差,例如:慧差及像散

非球面使用叮嚀
一些叮嚀︰
–非球面無法修正色差
–避免使用大數值圓錐常數在一個幾近平面的表面
–圓錐常數避免與A 項次(r4)同時使用在,因為基本上是做相同的事
單使用圓錐常數表面,或是使用A 項次如果您需要在增加其他項次(B、C…等)的話

決定一個或多個起始點
當規格確定後,接下來就需要一個(或多個)起始點來輸入至CODE V 程式中
起始設計點可從以下的方式取得:
–根據理論從頭開始
通常針對簡單系統,如:Cassegrain望遠鏡、消色差透鏡
–結合簡單的子系統
–早期設計的資料檔案
–教科書或期刊
–專利
–CODE V 全域最佳化(Global Synthesis)的結果別忘了可以藉由「尺度(scale)」來縮放大小
–專利設計檔通常會提供1 或100 的焦距


分析每個起始值
這個步驟有助於幫助您建立一個基線來比較結果
–您也可以試著觀察哪一個設計對於最佳化與分析是最適合的
若您大大地改變原有的使用條件(波長,F/# 或視角),這個分析方法可能會受到限制
某些設計起始設計值需要再最佳化以便可彼此比較
–專利設計會以專利觀點來展示設計型態及較差的影像品質
將所搜尋到的結果列表以便簡單一起進行比較

最佳化每個起始值
需要加入限制條件以期符合設計規格
–如果發生無法滿足限制條件的問題,可以試著放鬆限制條件或是改用權重來控制這個狀態
對成像或無焦系統來說,使用CODE V 預設誤差函數
–你往後能精煉它
在折射系統中,試著改變玻璃


分析每一個最佳化設計
CODE V 提供多種分析工具(部分摘錄):
–成像質量︰
幾何︰點列圖、RMS 點大小、四分之一檢測器
繞射︰PSF 與衍生量,如:環繞能量,正弦波與方波MTF、影像模擬(IMS)、部分同調影像,Gaussian 光束、一般繞射傳播(BSP)
–波前質量︰RMS 波前誤差、Zernike 多項式擬合
–幾何成像︰畸變曲線和網格圖,掃描線性
–穿透率、相對照度、投影立體角、極化...等等
CODE V 強大的巨集語言可自動重複執行這些分析任務

公差檢查
隨著快速公差分析工具,如:CODE V TOR,可以在設計的早期階段,進行初步的公差性能分析
可以幫您解決往後惱人的問題﹗
如果發現是高敏感度,你可以
–使用最佳化來將低敏感度
–把較強健的元件與較弱的分開
–討論是要選擇組裝補償還是校正方案
–放棄敏感度較高的設計改採低敏感度的
記住,它是在計算製造時的性能品質!

重複設計流程
如果最佳化設計不盡理想,建議您進行以下步驟︰
–精煉最佳化輸入
•權重(領域、變焦、孔徑、波長)
•誤差函數類型(如:波前或MTF)
–增加鏡片或非球面或更奇特的玻璃類型(如果允許)
–放鬆限制條件
–尋找不同的起始點
–檢討/修正/妥協規格

試著進行全域最佳化
針對錯綜複雜的多元件透鏡樣式,CODE V 的Global Synthesis 能夠最佳解。或它能確認你是個好設計者!
非常易於使用:只要改變幾個必要的最佳化輸入即可
即使是相對複雜的設計形式(如:6-8片鏡片),在一兩小時後就可獲得有用的結果
Global synthesis 可用來產生低敏感的設計形式。見:J. Rogers, “Using Global Synthesis to Find Tolerance-Insensitive Design Forms,” 2006 IODC (Vancouver)


準備加工
把虛擬材質轉換成真實材料
–證實尺寸需求中有可用性的材料
–ORA 一「玻璃專家」巨集可以幫助您
製造元件的等凸或等凹透鏡
製造長半徑表面平面(平板)
試驗板適合
大約的厚度,如:最近0.1 毫米

執行最終的公差
這是對您初步公差進行更精確的執行,並希望不會產生任何的驚奇﹗
記得以準確的方法使用這些元件公差,例如
–DLZ(表面ΔZ)或DSZ(群組表面ΔZ)公差可能比預設DLT 的厚度公差更合適
–楔形(wedge)公差可能是元件的前表面或後表面的傾斜
如果有幾個可能的補償值,CODE V SVD 算法(TOR)能幫助你確定哪個是最有效的

加工後的再次最佳化/分析
多用在精密低產量的應用上
通常按以下順序進行︰
–Melt fit 最佳化
–重新計算所量測到的厚度與半徑
–把測量的干涉圖置於表面
–將量測的干涉圖點對點的CODE V 校正功能進行校正
一項計畫並非會用到以上所有步驟

結論
光學設計是個多步驟的挑戰,必須要熟悉一些需求
–產品應用的光學需求
–基本的光學原理
–光學材料
–製造、組裝及校正技術
–「現有技術」
–適當的光學軟體

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