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据国外网站microled-info报道,Micro LED检测维修厂商InZiv宣布了一种新的工业级MicroLED 检测系统——REL。该公司表示,这个新系统提供了前所未有的Micro LED 晶圆级EL测试速度。REL系统可以在 Micro LED晶圆上快速获得EL测量值,1 小时内可测量多达600万个LED。 据InZiv介绍,EL(电致发光)检测提供了LED功能的最清晰指示,但目前的工具只能检测到Micro LED 晶圆上的一小部分设备。新的REL 系统是第一个提供快速测试的工具,因此可以对所有外延片LED执行 EL 测试。 据了解,InZiv是纳米光学检测技术解决方案供应商,面向Micro LED、QLED及OLED等新型显示领域。其采用纳米光学技术提供了一套用于Micro LED、QLED、OLED显示屏缺陷检测的方案,使工程师能够检测像素范围内的光和颜色缺陷。 InZiv结合PL检测和EL检测方式,将检测制程分为三个阶段进行,通过方案的优势互补,更精准、更高效地满足Micro LED芯片的检测需求。InZiv指出,依托其创新的纳米光学检测技术,AR智能眼镜、可穿戴设备及折叠屏等应用Micro LED、QLED显示技术的近眼设备有望更快走进消费市场。