仪器新知
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插损的测试在多光纤连接器的制程中是必不可少的重要工序。目前市场上的多光纤插回损测试仪都是基于光开关，完成12通道的测试最少需要20秒以上的时间，慢的甚至需要1分钟才能完成，显著影响了生产效率。 莱塔思光学MPO超快插损测试仪，测试速度比现有的产品快10倍以上，大大提升了测试工序的效率。能做到不到1秒钟就完成12通道的插损测试。常用的通道数有12 、 16、 24 、32、48可供选择。此超快测试仪采用了全新的工作原理（已申请发明专利），不是基于光开关。在测试过程中光路完全不变化，因此重复测试时插损变化量绝对为零。这款测试仪可以作为校准设备，校准其他厂家的测试仪。
