我的理解，1 MOS管硬开关，通过MOS管的Cgd电容，产生关断后的尖刺。 2 驱动IC 的布线问题，这种IC的输入阻抗很高，很容易引入干扰。建议降低送入驱动IC输入端的电平；连接MOS gate脚的布线不要跟MOS drain脚的布线平行，减少寄生电容效应； 驱动IC 尽量靠近MOS管，优化驱动线路布线的充放电路径。以上供你参考。
谢主龙恩
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求教各位大神，这两张分别是不同的差分测试同一个上管的驱动波形。波形129是THDP0200搭配MDO3034所测得的波形，上管在关断时有个尖刺，在开通时也有。这个是怎么来的啊？ 波形131是DP6130搭配MDO3034所测得的波形，明显看到关断和开通时的2个尖刺小了很多（基本看不到了，应该是仪器精度不够导致的）求正解！
