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存储器芯片老化测试 图是手册中的老化测试的接法...

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存储器芯片老化测试 
图是手册中的老化测试的接法,实现的效果是地址从0开始,每次加1,从DQ端口读出数据,但是DQ端口为什么通过一个10kΩ的电阻连接到VDD/2呢,这个load的作用是什么?

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