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测厚仪是一种透射式同位素仪表,是利用射线穿过被测材质时,一部分射线被吸收的原理来检测被测材质的厚度。放射源和核探测器位于被测材质的两边,射线穿过被测材质后射入核探测器,其强度被衰减。对于同一种材质,厚度越大,衰减越大。射入核探测器的射线强度,与被测材质厚度d之间的关系可用下式表示f3]:
任何射线性质的测厚仪都应该有两部分组成:射线发射部分和射线接受部分。根据射线发射部分的不同,可以分为人工射线测厚仪和同位素测厚仪。:c射线测厚仪以及国外正在研制的激光测厚仪都应当属于人工射线测厚仪,而各种使用某些元素同位素所产生的天然射线的测厚仪,应称为同位素测厚仪口】,本课题所研究的测厚仪就属于同位素测厚仪。以放射源所采用的同位素不同,有乃7c;,取C。,90s,等等种类源,根据射线种类的不同又可以分为13、v源等。对于接受部分而言,据其实现方法可分为气体电离法和闪烁法。气体探测器中有电离室等等。闪烁法中的探测器有发光晶体和光电转换、放大元件组成。I£L#I-还有半导体探测器等等。