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结构主要用途:测量内孔直径。结构简述:平板A与平板B通过线性轴承连接，中间有一个弹簧支撑，D点为被测物接触位置。C点为测量位置。 问题:水平测量比垂直测量小7微米 相关验证:在平板A的施力点D,E,F,G,H四处分别施加同样的力，在测量位置C测量平板A的高度。机构在水平状态和垂直状态，四点的高度差分别为7，2，0，17，31微米。 求助:分析可能的原因，如果需要D处水平与垂直测量结果一致，请问结构如何优化？ 谢谢！
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