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英国 华威大学(The University of Warwick)O. J. Wahab, E. Daviddi,P. R. Unwin等,曼彻斯特大学(The University of Manchester)A. K. Geim, M. Lozada-Hidalgo等,在Nature上发文,利用高分辨率扫描电化学池显微成像技术scanning electrochemical cell microscopy,对于石墨烯和六方氮化硼的机械剥离单层薄膜,尽管质子渗透不能完全归因于晶格结构缺陷,但二维薄膜的纳米级非平坦特性,极大地促进了质子传输。 基于扫描电化学池显微镜,观察到了质子电流的空间分布,并揭示了显著的不均匀性,这取决于纳米级褶皱和应变累积等其他特征。这突出了纳米尺度的表面形貌是重要参数之一,使得质子能够通过二维晶体传输。而在以前研究中,主要考量和建模为平面的,并未考虑到纳米尺度表面平整性问题。为此,二维材料的质子渗透性,可以调控其应变和曲率,用以作为额外的自由度。